[미국 주식] Aehr Test Systems (AEHR) 주가가 급등한 이유는?

 

 

 

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Aehr, 전기 자동차용 탄화규소 전력 반도체의 생산 테스트 및 번인을 위해 1,080만 달러 주문 접수

Aehr 테스트 시스템

2021년 7월 19일 월요일 오후 7:30

FREMONT, CA, July 19, 2021 (GLOBE NEWSWIRE) -- 반도체 테스트 및 신뢰성 검증 장비의 세계적인 공급업체인 Aehr Test Systems(NASDAQ: AEHR) 는 오늘 자사의 납 실리콘으로부터 1,080만 달러의 단일 구매 주문을 받았다고 발표했습니다. 증가된 생산 능력 요구 사항을 충족하기 위해 여러 FOX-XP™ 시스템 및 WaferPak™ 접촉기의 전체 세트에 대한 카바이드 테스트 및 번인 고객입니다. 이 고객은 자동차 반도체 시장에서 상당한 고객 기반을 보유한 Fortune 500대 반도체 장치 공급업체입니다. 이러한 FOX 시스템과 WaferPak은 향후 6개월 이내에 배송될 예정입니다.

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Aehr Test Systems의 사장 겸 CEO인 Gayn Erickson은 다음과 같이 말했습니다. 플랫폼 및 WaferPak 전체 웨이퍼 접촉기를 생산 적격 솔루션으로 사용합니다. 이 고객은 전기 자동차 반도체 테스트 및 번인 수요로 인해 올해 회계 연도에 여러 개의 추가 FOX 시스템 및 WaferPak 접촉기, 그리고 향후 몇 년 동안 상당한 수의 시스템 및 WaferPak에 대한 주문을 계속 예측할 것입니다.

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“이러한 탄화규소에 중점을 둔 FOX-XP 시스템은 각각 일반적인 단일 웨이퍼 테스트 솔루션의 풋프린트에서 18개의 탄화규소 웨이퍼를 병렬로 테스트하는 동시에 각 웨이퍼에서 100% 장치를 병렬로 접촉하고 테스트하도록 구성됩니다. 우리의 솔루션은 100mm 및 150mm 직경의 탄화규소 웨이퍼를 테스트할 수 있을 뿐만 아니라 향후 몇 년 동안 도입될 예정인 미래의 200mm 웨이퍼도 테스트할 수 있습니다. Aehr은 테스트 시스템, 전체 웨이퍼 WaferPak 접촉기 및 WaferPak 정렬기를 포함하는 고유한 완전 통합 솔루션을 제공합니다.

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“실리콘 카바이드 전력 반도체는 온보드 및 오프보드 전기 자동차 배터리 충전기에서 배터리 전기 자동차 전력 변환과 전기 엔진의 전력 변환 및 제어를 위한 선호 기술로 부상했습니다. 이러한 장치는 IGBT(절연 게이트 바이폴라 트랜지스터) 장치와 같은 전력 실리콘 대안에 비해 전력 손실을 최대 75%까지 줄이며, 이는 본질적으로 전체 시장 역학을 변화시켰습니다. 탄화규소의 문제점은 유아 사망률이 높은 것으로 알려져 있다는 것입니다. 그러나 Aehr이 FOX 제품 솔루션으로 제공할 수 있는 신뢰성 번인 및 스크리닝을 통해 이러한 결함을 제거하여 이러한 미션 크리티컬 애플리케이션에 매우 안정적인 장치를 제공할 수 있습니다.

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“Aehr의 FOX-XP 솔루션을 사용하면 기본적으로 한 번에 모든 장치를 테스트하고 번인 프로세스 동안 모든 장치를 테스트하고 모니터링하면서 장치로 가득 찬 전체 웨이퍼에서 주요 신뢰성 스크리닝 테스트 중 하나를 완료할 수 있습니다. 해당 장치에 대한 중요한 정보를 제공합니다. 이것은 고객이 수율 영향이 10배 또는 100배 더 비싼 다중 다이 모듈로 패키징된 후 실패할 장치를 선별할 수 있도록 하기 때문에 매우 가치 있는 기능입니다. 당사의 FOX-P 제품군은 성능과 신뢰성이 배터리 수명 연장을 의미할 뿐만 아니라 차량에서 집까지 걸어가야 하는지 여부를 의미하는 이 시장에서 장치의 중요한 품질과 신뢰성을 보장하기 위한 매우 비용 효율적인 솔루션입니다. 파워 트레인에서 전력 반도체가 고장납니다.

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Yole 리서치에 따르면, 전기 자동차용 전력 반도체 시장은 2020년에서 2026년 사이에 3배 성장하여 거의 26% CAGR로 성장하여 56억 달러에 이를 것으로 예상됩니다. 그리고 Deloitte의 보고서에 따르면 총 전기 자동차 판매는 2020년에서 2025년까지 CAGR 29%로 증가하여 2030년에는 3,110만 대에 도달하고 신차 판매에서 전체 시장 점유율의 약 32%를 차지할 것으로 예상합니다. 이러한 통계는 Aehr Test가 전기 자동차 반도체를 위한 웨이퍼 레벨 테스트 및 번인 솔루션을 통해 가지고 있는 엄청난 기회를 강조합니다.”

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여러 WaferPak 접촉기(전체 웨이퍼 테스트) 또는 여러 DiePak TM 캐리어( 단일 다이/모듈 테스트) 구성 과 함께 사용할 수 있는 FOX-XP 시스템 은 탄화규소 전원 장치와 같은 통합 장치의 기능 테스트 및 번인/사이클링이 가능합니다. , 실리콘 포토닉스 및 기타 광학 장치, 2D 및 3D 센서, 플래시 메모리, 질화갈륨(GaN), 자기 센서, 마이크로컨트롤러 및 웨이퍼 폼 팩터의 기타 첨단 IC를 단일 또는 다중으로 조립하기 전에 다이 스택 패키지 또는 단일 다이 또는 모듈 폼 팩터.

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Aehr Test Systems 소개

캘리포니아 프리몬트에 본사를 두고 있는 Aehr Test Systems는 로직, 광학 및 메모리 집적 회로의 번인 및 테스트를 위한 테스트 시스템의 세계적인 공급업체이며 전 세계적으로 2,500개 이상의 시스템을 설치했습니다. 자동차 및 이동성 집적 회로 시장의 품질 및 신뢰성 요구 사항 증가는 패키지, 웨이퍼 레벨 및 단일 다이/모듈 레벨 테스트에서 Aehr Test 제품에 대한 추가 테스트 요구 사항, 증분 용량 요구 사항 및 새로운 기회를 주도하고 있습니다. Aehr Test는 ABTS TM 및 FOX-P TM 테스트 및 번인 시스템 제품군과 FOX WaferPak TM Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak ®을 포함한 여러 혁신적인 제품을 개발 및 도입했습니다.캐리어 및 FOX DiePak 로더. ABTS 시스템은 저전력 및 고전력 논리 장치와 모든 일반 유형의 메모리 장치용 패키지 부품의 생산 및 자격 테스트에 사용됩니다. FOX-XP 및 FOX-NP 시스템은 첨단 메모리, 디지털 신호 프로세서, 마이크로프로세서, 마이크로컨트롤러와 같은 복잡한 장치의 번인 및 기능 테스트에 사용되는 전체 웨이퍼 접촉 및 단일 다이/모듈 테스트 및 번인 시스템입니다. , 시스템 온 칩 및 통합 광학 장치. FOX-CP 시스템은 FOX-P 제품군에 가장 최근에 추가된 로직, 메모리 및 포토닉 장치를 위한 새로운 저비용 단일 웨이퍼 소형 테스트 및 신뢰성 검증 솔루션입니다. WaferPak 접촉기에는 최대 300mm 웨이퍼를 테스트할 수 있는 고유한 전체 웨이퍼 프로브 카드가 포함되어 있어 IC 제조업체가 Aehr Test FOX 시스템에서 전체 웨이퍼의 테스트 및 번인을 수행할 수 있습니다. DiePak 캐리어는 IC 제조업체가 베어 다이와 모듈 모두에 대해 비용 효율적인 최종 테스트 및 번인을 수행할 수 있도록 하는 재사용 가능한 임시 패키지입니다

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https://finance.yahoo.com/news/aehr-receives-10-8-million-113000143.html